Низкотемпературные сканирующие зондовые микроскопы

Сверхтехнологичные низкотемпературные 3D микроскопы от NanoMagnetics теперь и в СНГ!

Низкотемпературный атомно/магнитно-силовой микроскоп (LT AFM/MFM)

Низкотемпературный атомно/магнитно-силовой микроскоп (LT AFM/MFM)

Подробнее

3D-сканирующий зондовый микроскоп Холла

3D-сканирующий зондовый микроскоп Холла работает в нанометровом масштабе, измеряя одновременно Bx, By и Bz. Уникальный микроскоп для количественного и не инвазивного анализа и формирования 3D-изображения магнитных полей поверхности в нанометровом масштабе.

Подробнее

Низкотемпературный сканирующий зондовый микроскоп Холла (LT-SHPM)

В низкотемпературных сканирующих зондовых микроскопах Холла для измерения локальной плотности магнитного потока поверхности образца применяется микро/нанодатчик Холла.

Подробнее

Сканирующий микроскоп с зондом Кельвина (MK SPM)

Сканирующие микроскопы с зондом Кельвина для систем 3He и 3He и криогенных рефрижераторов для измерений при температурах ниже 1K. Сканирующая микроскопия с зондом Кельвина, МСМ, СТМ, АСМ и другие режимы работы доступны в mK-SPM.

Подробнее

Бескриогенный АСМ/МСМ в безкриогенной измерительной системе (CFMS)

Бескриогенный Атомно-силовой микроскоп/Магнитно-силовой микроскоп в безкриогенной измерительной системе.

Подробнее

Возможность разглядеть малейшие частицы, из которых состоит абсолютно каждое вещество в условиях низких температур - основное предназначение низкотемпературного атомно-силового микроскопа (AFM) от производителя NanoMagnetics .

Условия работы низкотемпературного микроскопа

Инновационный принцип работы AFM построен на следующем алгоритме действий:

1. Во-первых, исследуемые объекты перед началом наблюдения, помещаются в условия сверхвысокой чистоты. Эта чистота должна быть поддерживаемой на протяжении всего времени проведения экспериментов. Чтобы создать такие условия, в камере с помещенным заранее устройством, используют специальный насос, генерирующий в помещении высокий вакуум.
2. Во-вторых, так как исследуемые молекулы отличаются сверхвысокой скоростью колебаний, стоит задача их сильного замедления. Для этого, камера охлаждается до температуры, практически равной «полному нулю» – 5К, или минус 268 градусов по Цельсию. Сделать это можно используя жидкий гелий, который с помощью хромированного цилиндра с механизмом открытия заранее помещается в камеру.
3. В-третьих, в целях полного избавления места проведения наблюдений от некоторых, все еще находящихся там, паразитных вибраций, используется система специальной подвески AFM, которая избавляет помещение от таких вибраций.

Принцип работы сканирующего 3D микроскопа

Сканирующие зондовые микроскопы имеют в своей основе особые явления, которые позволяют добиться поразительных результатов.

Зонд AFM, представляющий собой подвижный рычаг «Кантилевер», к которому крепится специальная игла, ощупывающая структурную составляющую молекул и атомов. Игла выглядит как конус микроскопических размеров, направленный заостренным концом к объекту исследования. Принцип работы напоминает то, как люди со слепотой используют шрифт Брайля для чтения.

Микроскопическая иголка, которая подвергается воздействию силы, возникающей между атомов из-за их взаимодействия между собой, считывает рельеф поверхности. Считывание заключается в проявлении колебаний на рычаге – Кантилевере. Эти колебания, в свою очередь, фиксируются лазерным датчиком, который и переводит их в изображение на экране устройства.

Принцип работы сканирующего 3д микроскопа заключается в подаче на иглу определенного напряжения. Между иголкой и исследуемой поверхностью появляется ток, изменение параметров которого и является целью наблюдения. В частности, величина силы тока на определенном участке зависит от его плотности.

Особенности исследований, проведенных с использованием AFM

Сканирование – это достаточно длительный процесс, который может происходить до двадцати часов. Одним из необходимых условий для проведения наблюдений является приближение иглы микроскопа к исследуемой точке на максимально возможное расстояние. Толщина иголки на острие приблизительно равна толщине одной молекулы.