г. Минск, 220 073, ул. Скрыганова, 14, помещение номер 23
Россия
+7 (969) 077-72-72
Беларусь
+375 (17) 270-07-81
+375 (29) 626-19-06
Низкотемпературный атомно/магнитно-силовой микроскоп (LT AFM/MFM)
Размер образца:
15 х 15 х 5 мм (макс.)
Волоконный интерферометр шума:
15 фм / √Гц
Диапазон температур:
20 мК - 300 К (зависит от криостата)
Магнитное поле:
16 Т (в зависимости от магнита)
Рабочее давление:
До 1E-6 мбар
Обработка сигналов:
Текущий диапазон:
G = −1 В/нА, 1 пА - диапазон 10 нА, минимальный уровень шума <8fA / √Гц
Аппаратные средства обратной связи реализованы:
2 канала цифровых ПИД-регуляторов с частотой 200 кГц
ВХОДЫ:
Любые 24/32-битные цифровые входы от PLL и т. д. Или любой аналоговый вход (с 24-битным АЦП)
ВЫХОДЫ:
24-битные цифро-аналоговые преобразователи и 24-битные цифровые выходы
Цифровой усилитель PLL / Lock-in
Диапазон частот: 100 Гц - 1 МГц
Разрешение: 1 мкГц
Ширина полосы демодуляции: 50 Гц - 5 кГц
Вход: ± 10 В, частота дискретизации: 50 МГц при 16-битном разрешении
Выход: 32-битный цифровой DF и фаза / 16-битный аналоговый DF и фаза
Обратная связь с постоянной амплитудой или постоянное возбуждение
Ширина полосы цифрового фильтра: 10 Гц - 3 кГц, регулируемая
АЦП (высокая скорость)
2 канала 16-битных аналого-цифровых преобразователей при 50 МГц;
± 10 В входной диапазон; 1 МГц Баттерворт LPF 4-го порядка
ЦАП (высокая скорость)
2 канала 16-битных цифро-аналоговых преобразователей при 50 МГц;
Выходной диапазон ± 10 В (один используется для напряжения смещения)
Сканирование ЦАП (высокое разрешение)
4 канала 24-битных цифро-аналоговых преобразователей @ 62,5 кГц;
± 10 В Выходной диапазон
ЦАП
2 24-битных и 12 16-битных цифро-аналоговых преобразоателей;
± 10 В Выходной диапазон
АЦП (высокое разрешение)
Одновременно сэмплированы 16 каналов по 24 бит аналого-цифровых преобразователей 200 кГц;
± 10 В входной диапазон; 10 кГц 4-й порядок Баттерворт LPF
Усилители высокого напряжения
4-х канальные малошумные высоковольтные усилители для привода с колебанием ± 200 В
Двигатель грубого приближения
Каналы обработки изображений
Одновременное сканирование 16 каналов АЦП при 8192x8192 пикселей
Требования к питанию
100/110/220/240 В переменного тока, 50/60 Гц, 400 ВА
Программное обеспечение и драйверы
LT-AFM / MFM - это система атомно-силовой микроскопии без выравнивания, оснащенная волоконным интерферометром, работающим при 1310 нм, уровне шума 15 фм / √ Гц с рабочим диапазоном 20 мК-300 К и магнитным полем до 16 Тл.
Конструкция без выравнивания создает удобное использование; оптоволоконный интерферометр переносит свет с помощью оптоволоконного кабеля относительно конца кантилевера и используется для измерения отклонения кантилевера; тем временем обеспечивая магнитное разрешение 10 нм при 4K. Выравнивающие чипы с тремя выступами, совместимые с коммерческими консольными устройствами, устраняют необходимость в оптическом выравнивании конечным пользователем.
LT-AFM / MFM позволяет характеризовать материалы, предлагая различные режимы визуализации; Зондовая сканирующая зондовая микроскопия, магнитно-силовая микроскопия, электро-силовая микроскопия, силовая микроскопия с зондом Кельвина, проводящая АСМ.
Контрольно-измерительные приборы и уникальный дизайн микроскопа LT-AFM / MFM позволяют настраивать его для различных размеров криостата.
Головка микроскопа состоит из двух концентрических пьезотрубок; внутренняя пьезотрубка для сканирования и внешняя для позиционирования образца.
Сканирующий пьезоэлемент состоит из квадрантных электродов и пьезоэлемента дизеринга для сглаживания кантилевера и поставляется с тремя различными вариантами по запросу.
Подход к образцу осуществляется с помощью скользящего движения; допускается движение 10 мм по оси Z и Ø3 мм по оси XY с чувствительностью 50 нм.
Электронные сигналы генерируются мощным elctronic LT-AFM / MFM через выходы BNC; переносится в микроскоп через соединения LEMO.
Доставка осуществляется по всей территории:
Мы пользуемся услугами проверенных годами транспортных компаний и курьерских служб, которым можно доверить доставку нашего оборудования.
Доставка включена в стоимость приборов и нашим клиентам не нужно решать этот вопрос. Мы берем на себя доставку от производителя до Вашей лаборатории или объекта.
Гарантия производителя "Nanomagnetics" – 1 год на все приборы с возможностью платного расширения гарантийного срока.
Наша компания осуществляет полную гарантийную и послегарантийную поддержку всего спектра поставляемого оборудования.
Все приборы поставляются с руководствами по эксплуатации на русском и английском языках. Специалисты нашей компании всегда помогут с решением технических вопросов (при необходимости привлекаются сотрудники компании производителя).
Условия оплаты рассматриваются в индивидуальном порядке в зависимости от типа поставляемого оборудования, формы собственности организации.
Мы работаем по:
Предусмотрен индивидуальный подход к каждому клиенту.
3D-сканирующий зондовый микроскоп Холла работает в нанометровом масштабе, измеряя одновременно Bx, By и Bz. Уникальный микроскоп для количественного и не инвазивного анализа и формирования 3D-изображения магнитных полей поверхности в нанометровом масштабе.
Сканирующие микроскопы с зондом Кельвина для систем 3He и 3He и криогенных рефрижераторов для измерений при температурах ниже 1K. Сканирующая микроскопия с зондом Кельвина, МСМ, СТМ, АСМ и другие режимы работы доступны в mK-SPM.
Низкотемпературный атомно/магнитно-силовой микроскоп (LT AFM/MFM)
г. Минск, 220 073, ул. Скрыганова, 14,
помещение номер 23
+7 (969) 077-72-72 (WhatsApp)
+375 (17) 270-07-81
+375 (29) 626-19-06
info@ilpa-tech.ru