Низкотемпературный атомно/магнитно-силовой микроскоп (LT AFM/MFM)

Характеристики

Размер образца:
15 х 15 х 5 мм (макс.)

Волоконный интерферометр шума:
15 фм / √Гц

Диапазон температур:
20 мК - 300 К (зависит от криостата)

Магнитное поле:
16 Т (в зависимости от магнита)

Рабочее давление:
До 1E-6 мбар

Обработка сигналов:

  • Современный контроллер на базе FPGA;
  • Реконфигурируемое цифровое оборудование для максимальной производительности;
  • Процессор реального времени с 128 МБ памяти DDR SDRAM;
  • Высокоскоростной интерфейс USB2.0, 480 Мбит/с для интерфейса ПК.

Текущий диапазон:
G = −1 В/нА, 1 пА - диапазон 10 нА, минимальный уровень шума <8fA / √Гц

Аппаратные средства обратной связи реализованы:
2 канала цифровых ПИД-регуляторов с частотой 200 кГц

ВХОДЫ:
Любые 24/32-битные цифровые входы от PLL и т. д. Или любой аналоговый вход (с 24-битным АЦП)

ВЫХОДЫ:
24-битные цифро-аналоговые преобразователи и 24-битные цифровые выходы

Цифровой усилитель PLL / Lock-in

Диапазон частот: 100 Гц - 1 МГц
Разрешение: 1 мкГц
Ширина полосы демодуляции: 50 Гц - 5 кГц
Вход: ± 10 В, частота дискретизации: 50 МГц при 16-битном разрешении
Выход: 32-битный цифровой DF и фаза / 16-битный аналоговый DF и фаза
Обратная связь с постоянной амплитудой или постоянное возбуждение
Ширина полосы цифрового фильтра: 10 Гц - 3 кГц, регулируемая

АЦП (высокая скорость)
2 канала 16-битных аналого-цифровых преобразователей при 50 МГц;
± 10 В входной диапазон; 1 МГц Баттерворт LPF 4-го порядка

ЦАП (высокая скорость)
2 канала 16-битных цифро-аналоговых преобразователей при 50 МГц;
Выходной диапазон ± 10 В (один используется для напряжения смещения)

Сканирование ЦАП (высокое разрешение)
4 канала 24-битных цифро-аналоговых преобразователей @ 62,5 кГц;
± 10 В Выходной диапазон

ЦАП
2 24-битных и 12 16-битных цифро-аналоговых преобразоателей;

± 10 В Выходной диапазон

АЦП (высокое разрешение)
Одновременно сэмплированы 16 каналов по 24 бит аналого-цифровых преобразователей 200 кГц;
± 10 В входной диапазон; 10 кГц 4-й порядок Баттерворт LPF

Усилители высокого напряжения
4-х канальные малошумные высоковольтные усилители для привода с колебанием ± 200 В

Двигатель грубого приближения

  • Регулируемый высоковольтный импульсный генератор: ± 200 В;
  • Скорость нарастания: 400 В / 2 мкс при емкостной нагрузке 33 нФ;
  • 19 каналов ползунковых выходов программируемых выходов с механическими реле;
  • Выбор формы волны ползунка: Экспоненциальная / t2 / линейная / экспоненциальная обратная по времени;
  • Пользовательский интерфейс с помощью джойстика и программного обеспечения.

Каналы обработки изображений

Одновременное сканирование 16 каналов АЦП при 8192x8192 пикселей

Требования к питанию

100/110/220/240 В переменного тока, 50/60 Гц, 400 ВА

Программное обеспечение и драйверы

  • Исходный код написан на C # и DirectX 11 для 64-битной ОС;
  • LabView ™ драйверы для скриптинга;
  • Настройка программного обеспечения по запросу.

 

LT-AFM / MFM Обзор

LT-AFM / MFM - это система атомно-силовой микроскопии без выравнивания, оснащенная волоконным интерферометром, работающим при 1310 нм, уровне шума 15 фм / √ Гц с рабочим диапазоном 20 мК-300 К и магнитным полем до 16 Тл.

Конструкция без выравнивания создает удобное использование; оптоволоконный интерферометр переносит свет с помощью оптоволоконного кабеля относительно конца кантилевера и используется для измерения отклонения кантилевера; тем временем обеспечивая магнитное разрешение 10 нм при 4K. Выравнивающие чипы с тремя выступами, совместимые с коммерческими консольными устройствами, устраняют необходимость в оптическом выравнивании конечным пользователем.

LT-AFM / MFM позволяет характеризовать материалы, предлагая различные режимы визуализации; Зондовая сканирующая зондовая микроскопия, магнитно-силовая микроскопия, электро-силовая микроскопия, силовая микроскопия с зондом Кельвина, проводящая АСМ.

Контрольно-измерительные приборы и уникальный дизайн микроскопа LT-AFM / MFM позволяют настраивать его для различных размеров криостата.

Головка микроскопа состоит из двух концентрических пьезотрубок; внутренняя пьезотрубка для сканирования и внешняя для позиционирования образца.

Сканирующий пьезоэлемент состоит из квадрантных электродов и пьезоэлемента дизеринга для сглаживания кантилевера и поставляется с тремя различными вариантами по запросу.

Подход к образцу осуществляется с помощью скользящего движения; допускается движение 10 мм по оси Z и Ø3 мм по оси XY с чувствительностью 50 нм.

Электронные сигналы генерируются мощным elctronic LT-AFM / MFM через выходы BNC; переносится в микроскоп через соединения LEMO.

 

Доставка осуществляется по всей территории:

  • Беларуси;
  • России;
  • Казахстана.

Мы пользуемся услугами проверенных годами транспортных компаний и курьерских служб, которым можно доверить доставку нашего оборудования.

Доставка включена в стоимость приборов и нашим клиентам не нужно решать этот вопрос. Мы берем на себя доставку от производителя до Вашей лаборатории или объекта.

Оставить комментарий

Гарантия производителя "Nanomagnetics" – 1 год на все приборы с возможностью платного расширения гарантийного срока.

Наша компания осуществляет полную гарантийную и послегарантийную поддержку всего спектра поставляемого оборудования.

Все приборы поставляются с руководствами по эксплуатации на русском и английском языках. Специалисты нашей компании всегда помогут с решением технических вопросов (при необходимости привлекаются сотрудники компании производителя).

Условия оплаты рассматриваются в индивидуальном порядке в зависимости от типа поставляемого оборудования, формы собственности организации.

Мы работаем по:

  • Безналичной оплате;
  • Наличной оплате;
  • Электронные платежные системы;

Предусмотрен индивидуальный подход к каждому клиенту.

Задать вопрос

Неверный ввод
Неверный ввод
Неверный ввод
Неверный ввод

Возможно, Вас так же заинтересует:

Сканирующие микроскопы с зондом Кельвина для систем 3He и 3He и криогенных рефрижераторов для измерений при температурах ниже 1K. Сканирующая микроскопия с зондом Кельвина, МСМ, СТМ, АСМ и другие режимы работы доступны в mK-SPM.

Низкотемпературный атомно/магнитно-силовой микроскоп (LT AFM/MFM)

В низкотемпературных сканирующих зондовых микроскопах Холла для измерения локальной плотности магнитного потока поверхности образца применяется микро/нанодатчик Холла.

Форма заказа

Неверный ввод
Неверный ввод
Неверный ввод
Неверный ввод
Поделиться в соцсетях:

Связаться с нами

Если у Вас остались вопросы или вы хотите заказать
продукцию, просто заполните форму ниже

Неверный ввод
Неверный ввод
Неверный ввод
Неверный ввод
Неверный ввод
  • г. Минск, 220 073, ул. Скрыганова, 14,
    помещение номер 23

  • +7 (969) 077-72-72 (WhatsApp)

  • +375 (17) 270-07-81

  • +375 (29) 626-19-06

  • info@ilpa-tech.ru

  • Связаться с нами