Сканирующий микроскоп с зондом Кельвина (MK SPM)

View the embedded image gallery online at:
https://nanoafm.ru/produktsiya/nizkotemperaturnye-skaniruyushchie-zondovye-mikroskopy/138-skaniruyushchij-mikroskop-s-zondom-kelvina-mk-spm#sigProId784a1c8041

Сканирующие микроскопы с зондом Кельвина для систем 3He и 3He и криогенных рефрижераторов для измерений при температурах ниже 1K. Сканирующая микроскопия с зондом Кельвина, МСМ, СТМ, АСМ и другие режимы работы доступны в mK-SPM.

Заказать

В наличии

Техпаспорт продукта

Буклет на английском языке

Преимущества MK-SPM

Надежный дизайн;
Специальная управляющая электроника, программное обеспечение для сбора и анализа;
Несколько режимов работы, STM, QTF-AFM, SHPM и т. д.

Холодильник для разведения

Полностью интегрированные Cryofree магниты, до 16 Т;
Базовая температура: ≤ 7 мК;
Мощность охлаждения ≥ 200 или 400 мкВт при 100 мК;
Автоматическое управление холодильником для разбавления от комнатной температуры до базовой температуры.

Характеристики

Режимы визуализации:

Сканирующая туннельная микроскопия (STM);
Атомно-силовая микроскопия (AFM);
Контактная АСМ;
Бесконтактная АСМ;
Магнитно-силовая микроскопия (MFM);
Электростатическая силовая микроскопия (EFM);
Сканирующая ближнепольная микроскопия (SNOM);
Кварцевая АСМ;
Сканирующая микроскопия сопротивления растекания (SSRM);
Пьезо-ответная силовая микроскопия (PRFM);
Кельвин-зондовая силовая микроскопия (KPFM).


Размер сканера
Головка сканирования большой площади	Стандартная сканирующая головка	Головка сканирования малой площади
150 x 150 мкм @ 300 K	52 x 52 мкм @ 300K	8 x 8 мкм @ 300 K
36 x 36 мкм @ 77 K	14 x 14 мкм @ 77 K	3.5 x 3.5 мкм @ 77 K
18 x 18 мкм @ 4.2 K	6 x 6 мкм @ 4.2 K	1.5 x 1.5 мкм @ 4.2 K
Z Диапазон
7.0 мкм @ 300 K	4.8 мкм @ 300 K	2.4 мкм @ 300 K
1.8 мкм @ 77 K	1.2 мкм @ 77 K	0.6 мкм @77K
0.8 мкм @ 4.2 K	0.5 мкм @ 4.2 K	0.25 мкм @ 4.2K

Размеры головки

23,6 мм наружного диаметра х 125 мм или

25,4 мм наружного диаметра х 100 мм

Подход к образцу

Тип - прилипание-скольжение; Диапазон 10 мм Z, Ø 3 мм XY с шагом 50 - 800 нм

Размер образца

максимум 15 x 15 x 5 мм

Температурный диапазон

10 мК - 400 К для LT-SHPM (ограничен криостатом)

Магнитное поле

> 16 Тл

Совместимость

Холодильники с разведением от разных производителей и системы He3. Могут быть адаптированы к другим системам МК, если позволяет свободное пространство.

Доставка осуществляется по всей территории:

Беларуси;
России;
Казахстана.

Мы пользуемся услугами проверенных годами транспортных компаний и курьерских служб, которым можно доверить доставку нашего оборудования.

Доставка включена в стоимость приборов и нашим клиентам не нужно решать этот вопрос. Мы берем на себя доставку от производителя до Вашей лаборатории или объекта.

Оставить комментарий

Гарантия производителя "Nanomagnetics" – 1 год на все приборы с возможностью платного расширения гарантийного срока.

Наша компания осуществляет полную гарантийную и послегарантийную поддержку всего спектра поставляемого оборудования.

Все приборы поставляются с руководствами по эксплуатации на русском и английском языках. Специалисты нашей компании всегда помогут с решением технических вопросов (при необходимости привлекаются сотрудники компании производителя).

Условия оплаты рассматриваются в индивидуальном порядке в зависимости от типа поставляемого оборудования, формы собственности организации.

Мы работаем по:

Безналичной оплате;
Наличной оплате;
Электронные платежные системы;

Предусмотрен индивидуальный подход к каждому клиенту.

Возможно, Вас так же заинтересует:

Низкотемпературный сканирующий зондовый микроскоп Холла (LT-SHPM)

В низкотемпературных сканирующих зондовых микроскопах Холла для измерения локальной плотности магнитного потока поверхности образца применяется микро/нанодатчик Холла.

Подробнее

Низкотемпературный атомно/магнитно-силовой микроскоп (LT AFM/MFM)

Подробнее

3D-сканирующий зондовый микроскоп Холла

3D-сканирующий зондовый микроскоп Холла работает в нанометровом масштабе, измеряя одновременно Bx, By и Bz. Уникальный микроскоп для количественного и не инвазивного анализа и формирования 3D-изображения магнитных полей поверхности в нанометровом масштабе.

Подробнее

Продукция